KI-gestützte Inspektionsstrategien für eine nachhaltige Elektronikproduktion
Der technologische Fortschritt digitalisiert und erleichtert zunehmend unseren Alltag und steigert so den Wohlstand, erhöht jedoch gleichzeitig drastisch die Menge an Elektroschrott. Jährlich fallen weltweit etwa 50 Millionen Tonnen Elektroschrott an, wovon ein erheblicher Teil durch gezielte Reparatur- und Wiederverwendungsstrategien vermieden werden könnte. Bislang scheitert eine Weiterverwendung oft an ineffizienten und kostenintensiven Prüfverfahren für elektronische Geräte.
Die ICM-Nachwuchsgruppe "Nachhaltige Elektronik" um Dr. Florian Stamer am wbk Institut für Produktionstechnik des KIT hat eine KI-gestützte Inspektionsstrategie entwickelt, die die Wiederverwertung von Leiterplatten optimiert. In Zusammenarbeit mit dem Start-up Desoltik und gefördert durch den ICM, wurde ein Verfahren entwickelt, das optische, elektrische, thermografische und röntgenbasierte Technologien kombiniert. Die Künstliche Intelligenz erfasst und analysiert die Prüfdaten in Echtzeit und bestimmt adaptiv die erforderliche Prüftiefe sowie die optimalen Testverfahren für spezifische Baugruppen. Nach jeder Prüfsequenz erfolgt eine datengetriebene Bewertung der Messwerte, woraufhin die Inspektionsstrategie dynamisch angepasst wird. Sobald eine ausreichende Datenbasis vorliegt, leitet das System die optimale "R-Strategie" ab – basierend auf den Prinzipien der Kreislaufwirtschaft wie Reparatur (Repair), Wiederverwendung (Reuse) oder Recycling (Recycle).
